वाराणसी। राष्ट्रीय पात्रता सह प्रवेश परीक्षा (NEET) के दौरान नकल की आशंका में एक परीक्षार्थी को गिरफ्तार किया गया। यह कार्रवाई हरिश्चंद्र पीजी कॉलेज स्थित परीक्षा केंद्र पर की गई।जानकारी के अनुसार, जांच के दौरान परीक्षार्थी के अंडरवियर से एक सिम कार्ड बरामद हुआ। तलाशी में उसके पास से एम-सील (M-Seal) और फेवीकोल भी मिला, जिन्हें कथित तौर पर इलेक्ट्रॉनिक उपकरण या अन्य सामग्री छिपाने के उद्देश्य से लाया गया था।
पुलिस और परीक्षा प्राधिकरण मामले की जांच कर रहे हैं कि सिम कार्ड और अन्य सामग्री का उपयोग किस उद्देश्य से किया जाना था तथा क्या इसमें किसी अन्य व्यक्ति की भी संलिप्तता है।अधिकारियों ने कहा कि परीक्षा की निष्पक्षता बनाए रखने के लिए सुरक्षा व्यवस्था कड़ी रखी गई थी, जिसके चलते समय रहते मामले का खुलासा हो गया। जांच के आधार पर आगे की कानूनी कार्रवाई की जा रही है।
